JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
作者:标准资料网
时间:2024-04-28 15:53:38
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【英文标准名称】:Interferometricmeasurementofopticalelementsandsystems--Termsanddefinitionsofsurfaceformandwavefrontdeformationtolerances
【原文标准名称】:光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
【标准号】:JISB0091-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-05-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonTestingandMeasurementTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:N30
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:18P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
【标准号】:JISB0091-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-05-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonTestingandMeasurementTechnology
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:N30
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:18P;A4
【正文语种】:日语
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